德國(guó)HUBER快速X射線(xiàn)粉末衍射儀，高精度的機(jī)械加工，ji大限度地豐富了X射線(xiàn)衍射儀的使用場(chǎng)景，擴(kuò)大了使用范圍，該系統(tǒng)可分別實(shí)現(xiàn)“微量、高壓、高溫、超低溫、單晶測(cè)量”等全部要求。

Guinier超低溫高精X射線(xiàn)粉末衍射儀運(yùn)用成像板技術(shù)，通過(guò)成熟的工藝技術(shù)，配合溫度調(diào)節(jié)配件，可對(duì)低低至4K的粉末樣品進(jìn)行X射線(xiàn)衍射測(cè)量。

以下將詳細(xì)介紹以Guinier Camera G670相機(jī)及超低溫系統(tǒng)Low Temperature Device670.4為核心構(gòu)造的快速超低溫高精X射線(xiàn)粉末衍射儀。

*的成像板技術(shù)

由聚酯制成的柔性安裝箔上涂有由晶體組成的均勻粉末的發(fā)光存儲(chǔ)材料(顆粒大小約0.005mm)，即由氟化鋇和微量二價(jià)銪組成的光刺激熒光粉作為發(fā)光中心(BaFBr:Eu2+)。

圖像存儲(chǔ)箔片位于Guinier相機(jī)670中，敏感面向內(nèi)，jing確地對(duì)準(zhǔn)在半徑為90mm的焦圓上。它的曝光方式與以前使用的濕法影印技術(shù)相同。之后，在約5秒的時(shí)間內(nèi)，用垂直的線(xiàn)性紅色二極管產(chǎn)生的激光束掃描成像板。

由此產(chǎn)生的藍(lán)色光激勵(lì)發(fā)光(PSL)從受X射線(xiàn)照射的區(qū)域發(fā)出，在掃描過(guò)程中由光電倍增管放大，然后記錄。初始的模擬信號(hào)通過(guò)一個(gè)16位的A /D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字計(jì)數(shù)。

通過(guò)白色鹵素?zé)?，可以?/span>10秒內(nèi)擦除已儲(chǔ)存的圖像結(jié)構(gòu)，并支持下一次成像。

除圖像存儲(chǔ)箔外，670相機(jī)的外殼還包括帶有光電倍增管和前置放大器的激光記錄單元，以及鹵素擦除燈。

這款Guinier粉末衍射儀集成了傳統(tǒng)的濕法影印技術(shù)的高分辨率，及圖像板檢測(cè)技術(shù)的高靈敏度。因此，它能夠在盡可能短的時(shí)間內(nèi)提供數(shù)字粉末衍射圖，然后可以通過(guò)Rietveld分析或類(lèi)似的方法進(jìn)一步處理。

所提供的測(cè)量軟件在MS-Windows下運(yùn)行，并將多可達(dá)20001個(gè)計(jì)數(shù)點(diǎn)的衍射圖文件存儲(chǔ)成各類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)文件格式。

超低溫裝置

Low Temperature Device 670.4

粉末樣品，可以在約12K至350 K之間進(jìn)行研究。與標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)670.1類(lèi)似，粉末被夾在兩層聚酯薄膜之間。

冷卻裝置具有完整的幾何設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，透射角為45°。樣品被封裝在一個(gè)冷卻的銅塊中，銅塊周?chē)袃蓚€(gè)冷卻罩。樣品由位于低溫恒溫箱外的旋轉(zhuǎn)條形磁鐵振蕩。空冷壓縮機(jī)為閉式循環(huán)液氦冷卻系統(tǒng)提供動(dòng)力。溫度由硅二極管和冷卻頭中的加熱元件控制。

調(diào)節(jié)系統(tǒng)由電腦和的 RS232/IEEE488控制。配有完整的真空泵系統(tǒng)和所有必要的設(shè)備。

G670的主要技術(shù)參數(shù)：

計(jì)數(shù)點(diǎn)(max.)：20001

2-Theta范圍 (max.) ：100°

2-Theta 步長(zhǎng)：0.005°

A/D 分辨率：16 Bit

動(dòng)態(tài)范圍(multi-scan)：~200000 counts

讀出時(shí)間：<5 sec

擦除時(shí)間：10 sec

焦圓半徑：90 mm.

硬件要求

X射線(xiàn)光源：0.4*8 mm2垂直細(xì)線(xiàn)焦點(diǎn)

臺(tái)面以上橫梁高度：~275mm

桌面面積：~600*500mm2

19”機(jī)架，3個(gè)高度單位

    該系統(tǒng)以Guinier高分辨率相機(jī)及超低溫系統(tǒng)Low Temperature Device670.4為主要核心組件，通過(guò)在此基礎(chǔ)上搭建的超低溫系統(tǒng)，以響應(yīng)客戶(hù)超低溫條件下的粉末試樣進(jìn)行高精度測(cè)量的需求。